NEO Semiconductor разрабатывает стековую оперативную память 3D X-DRAM

Американская компания NEO Semiconductor анонсировала создание прототипа новейшей стековой оперативной памяти 3D X-DRAM, который может решить проблему нехватки ОЗУ. Данная разработка уже привлекла интерес инвесторов и производителей памяти.

  • Разработка прототипа 3D X-DRAM осуществлена NEO Semiconductor.
  • Привлечение инвестора Стэна Ши, основателя Acer и бывшего руководителя TSMC.
  • Сотрудничество с Национальным университетом Янмин Цзяотун и Тайваньским научно-исследовательским институтом полупроводников.
  • Задержка чтения/записи менее 10 нс, время регенерации — более 1 секунды.
  • Плотность записи 512 Гбит на кристалл, пропускная способность в 16 раз выше, чем у HBM.

Перспективы и достижения NEO Semiconductor

NEO Semiconductor, которая год назад испытывала трудности с привлечением поддержки, сегодня активно ведет переговоры с ведущими производителями памяти. Сотрудничество с известными учебными учреждениями Тайваня и успешная разработка прототипа стали ключевыми факторами для привлечения инвестиций.

Технические характеристики 3D X-DRAM

По заявлению разработчиков, новая память будет обладать высокой плотностью и пропускной способностью. Это стало возможным благодаря стековой компоновке и широкой шине данных, что значительно улучшает характеристики по сравнению с существующими решениями.

Параметр Значение
Задержка чтения/записи менее 10 нс
Время регенерации при 85 °C более 1 секунды
Плотность записи 512 Гбит на кристалл
Пропускная способность в 16 раз выше HBM

Таким образом, NEO Semiconductor poised to revolutionize the memory market with its innovative solutions, potentially presenting competitive products в ближайшем будущем.

Понравилась статья? Поделиться с друзьями: